可以利用標準試塊手動或自動生成DAC、AVG曲線;
自動顯示缺陷回波位置(深度d、水平p、距離s、波幅H);l
自由切換三種標尺(深度d、水平p、距離s);l
10個獨立探傷通道,可自由輸入并存儲任意行業的探傷標準,(可根據用戶需求擴展);l
可存儲300幅A掃圖形、參數(可根據用戶需求擴展); l
高采樣率,低噪聲;
自動顯示缺陷回波位置(深度d、水平p、距離s、波幅H);l
自由切換三種標尺(深度d、水平p、距離s);l
10個獨立探傷通道,可自由輸入并存儲任意行業的探傷標準,(可根據用戶需求擴展);l
可存儲300幅A掃圖形、參數(可根據用戶需求擴展); l
高采樣率,低噪聲;
自動顯示缺陷當量φ值;
探頭方式:單晶、雙晶、穿透;
回波抑制;
回波次數分析。
輔助功能:
輔助功能:
自動增益;回波包絡、峰值記憶功能提高了探傷效率;
中英文操作界面;
角度和K值兩種輸入方式;
閘門聲光報警。